Il monitoraggio dei FOUP nella produzione di semiconduttori è importante per il controllo della contaminazione, l'ottimizzazione dei processi, il miglioramento della resa, il controllo qualità e la conformità. Garantisce la protezione dei wafer, ottimizza il flusso di lavoro, migliora la resa e mantiene la qualità.
Applicazione: Tracciabilità dei FOUP
Il monitoraggio efficiente dei FOUP nella produzione di semiconduttori può essere difficile a causa della complessità di gestione di numerosi FOUP, della gestione di grandi quantità di dati, dell'integrazione con i sistemi esistenti, della verifica della precisione dell'automazione, della gestione dei fattori ambientali e della conformità agli standard di settore.
La nostra soluzione: RFID per la tracciabilità completa dei processi
La tecnologia RFID di OMRON offre funzioni specializzate per le applicazioni dei semiconduttori, tra cui la resistenza chimica, la compatibilità con i transponder in vetro standardizzati di Texas Instruments (lettura e scrittura) e il supporto del protocollo SECS I/II.
Questa soluzione avanzata supporta cinque standard SEMI e la comunicazione SECS/GEM, garantendo una gestione coerente dei FOUP e dei pod nella produzione dei semiconduttori. Progettata per SEMI, questa tecnologia migliora la protezione dei wafer, ottimizza il flusso di lavoro e aumenta la resa e la qualità.
Tecnologie abilitanti
V640 SEMI
Le applicazioni per semiconduttori richiedono caratteristiche speciali del prodotto in termini di resistenza chimica e protocollo per i sistemi di identificazione. V640 di OMRON è in grado di fornire sia la comunicazione con transponder in vetro standardizzati di Texas Instruments sia con il protocollo SECS I/II.
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Le applicazioni nel campo dei semiconduttori richiedono caratteristiche speciali di prodotto in termini di resistenza chimica e di protocollo per i sistemi di identificazione. Il sistema OMRON V640 risponde a entrambe le esigenze: comunicazione con i transponder in vetro Texas Instruments standardizzati e protocollo SECS I/II.
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